
如何判断EL817元件的好坏?
在测量EL817光耦的好坏时,可以采用以下几种方法:
一、比较法

1、步骤:拆下怀疑有问题的光耦,用万用表测量其内部二极管、三极管的正反向电阻值,然后与好的光耦对应脚的测量值进行比较。
2、判断标准:若阻值相差较大,则说明光耦已损坏。
二、数字万用表检测法
1、步骤:将数字万用表拨至NPN挡(或者PNP挡),将光耦内接二极管的+端{1脚}和端{2脚}分别插入HFE的c、e插孔内,此时数字万用表应置于NPN挡;然后将指针式万用表拨在RX1k挡,并将黑表笔接e极,红表笔接4脚后,观察指针式万用表的偏转角度——向右偏转指示电阻值变小。
2、判断标准:通过观察指针式万用表的偏转角度来判断光电转换效率,从而评估光耦的好坏。
三、光电效应判断法
1、步骤:将万用表置于RX1k电阻挡,两表笔分别接在EL817光耦的输出端{4、5脚};然后用一节1.5V电池与一只50~100Ω的电阻串接后,电池的正极端碰接EL817光耦的1脚(输入端正极),负极端碰接2脚(输入端负极),这时观察接在输出端(4、5脚)的万用表指针偏转情况。
2、判断标准:如果指针摆动,说明光耦是好的;如果指针不动,则说明光耦已经损坏。
四、简单电路测试法
1、步骤:将EL817光耦的2号和3号引脚接地,4号引脚连接到一个470欧姆的电阻,该电阻的另一端连接至5V电源,1号引脚通过一个1K欧姆的电阻连接至5V电源,断开1K欧姆电阻连接5V的线路,用电表测量4号引脚的电压。
2、判断标准:若观察到电压有高低变化的现象,说明光耦是好的;否则可能已损坏。
五、直接测量法

1、步骤:使用指针式万用表测量EL817光耦内部二极管的正反向电阻值,以及光电三极管的正反向电阻值。
2、判断标准:根据测量结果判断二极管和三极管是否工作正常,从而评估光耦的好坏。
方法均可用于测量EL817光耦的好坏,但具体选择哪种方法取决于实际情况和个人偏好,在实际操作中,建议结合多种方法进行综合判断以提高准确性。
作者:豆面本文地址:https://www.jerry.net.cn/articals/17277.html发布于 2025-01-17 07:00:25
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