如何判断BT137600E的好坏？

摘要： BT137-600E 是一款双向可控硅，以下是判断其好坏的方法：一、外观检查1、引脚完整性：检查可控硅的三个引脚是否完整无缺，有无弯曲、折断或氧化等情况，若引脚有损坏，可能会导致连...

BT137600E 是一款双向可控硅，以下是判断其好坏的方法：

一、外观检查

1、引脚完整性：检查可控硅的三个引脚是否完整无缺，有无弯曲、折断或氧化等情况，若引脚有损坏，可能会导致连接不良或无法正常工作。

2、外壳破损：查看可控硅的外壳是否有裂痕、破碎或其他明显的物理损伤，外壳损坏可能会影响其密封性和电气性能，甚至可能导致内部芯片暴露在外受到污染或损坏。

二、电阻测量

1、万用表挡位选择：将万用表置于 R×1kΩ 挡或二极管挡，此挡位可用于检测可控硅的正向和反向电阻。

2、测量 T1 与 T2 间电阻：正常情况下，T1 极与 T2 极之间的正、反向电阻都应在几百千欧以上，通常为无穷大，如果测量结果远小于这个值，说明 T1 与 T2 之间可能有短路现象；若阻值为 0，则表明内部已击穿短路。

3、测量控制极与 T1 间电阻：用万用表红表笔接控制极 G，黑表笔接 T1 极，正常时有一定的电阻值，一般在几千欧左右，具体数值因不同的可控硅而有所差异，若测得电阻值为无穷大，说明控制极与 T1 极之间开路；若电阻值过小，可能是控制极与 T1 极之间短路。

4、测量控制极与 T2 间电阻：用万用表红表笔接控制极 G，黑表笔接 T2 极，正常时电阻应为无穷大，若测量结果有电阻值，则表示控制极与 T2 极之间短路。

三、触发导通测试

1、电路搭建：给 BT137600E 的控制极 G 和阴极 K 之间加上一个触发信号，如通过按钮开关或导线瞬间短接来提供触发电流。

2、电压施加：在阳极 A 和阴极 K 之间施加一定的电压，一般可以使用低压直流电源，如 3V 左右的电池或可调直流电源。

3、导通判断：如果可控硅正常，当按下按钮或短接控制极和阴极时，可控硅应该导通，即阳极 A 和阴极 K 之间的电阻会迅速减小，电压降也会相应降低，此时可以通过测量阳极和阴极之间的电压来判断是否导通，若可控硅不导通，可能是触发电流不足、控制极与阴极之间开路或其他故障导致。

四、绝缘性能测试

1、绝缘电阻测量：使用绝缘电阻测试仪，分别测量可控硅各引脚之间以及引脚与外壳之间的绝缘电阻，正常情况下，绝缘电阻应大于 10MΩ，如果绝缘电阻过低，说明可控硅存在漏电现象，绝缘性能不佳。

2、耐压测试：使用耐压测试设备，对可控硅进行耐压测试，一般按照其额定电压的一定倍数（如 1.5 倍）施加电压，保持一段时间（如 1 分钟），观察是否出现击穿或闪络现象，若可控硅在耐压测试中出现异常，则说明其绝缘强度不够，不能正常使用。

五、对比测试

如果有多个相同型号的 BT137600E 可控硅，可以采用对比测试的方法，将待测可控硅与已知正常的同型号可控硅接入相同的测试电路中，分别进行上述的各种测试，对比两者的测试结果，如果待测可控硅的测试结果与正常可控硅相差较大，则说明该可控硅可能存在问题。

通过外观检查、电阻测量、触发导通测试、绝缘性能测试以及对比测试等方法，可以较为全面地判断 BT137600E 的好坏，在测试过程中，需严格按照操作规范进行，确保测试结果的准确性和可靠性。