
如何判断m65831ap的好坏,测量方法全解析
M65831AP是一款常见的可控硅,以下是一些测量其好坏的方法:
一、外观检查
检查项目 | 具体操作及判断标准 |
引脚完整性 | 查看可控硅的三个引脚是否完整,有无折断、弯曲或缺失的情况,若引脚有损坏,则可控硅可能已损坏。 |
表面状况 | 检查可控硅的表面是否有烧焦、裂纹、破损等明显的痕迹,若有,说明可控硅可能在之前的使用过程中出现过热、过流等问题,导致其性能受损甚至失效。 |
二、电阻测量法

1、万用表准备:将万用表置于合适的电阻档位,一般选择R×1kΩ档位较为合适。
2、测量阳极与阴极间电阻:用万用表的红表笔接阳极(A),黑表笔接阴极(K),正常情况下,阳极与阴极之间的电阻应为无穷大,如果测得的电阻值较小或为零,说明阳极与阴极之间存在短路现象,可控硅已损坏。
3、测量控制极与阴极间电阻:用万用表的红表笔接控制极(G),黑表笔接阴极(K),正常时,控制极与阴极之间的正反向电阻一般在十几千欧左右,如果测得的电阻值为零或无穷大,或者正反向电阻相差很大,都表明控制极与阴极之间的PN结可能已损坏。
4、测量控制极与阳极间电阻:用万用表的红表笔接控制极(G),黑表笔接阳极(A),正常时,控制极与阳极之间的正反向电阻也应该是无穷大,若测得电阻值较小或为零,则说明控制极与阳极之间存在漏电或短路问题。
三、导通特性测试法
1、电路连接:按照以下方式连接电路,即将被测可控硅的阳极(A)接电源的正极,阴极(K)接电源的负极,控制极(G)通过一个电阻(一般为几百欧姆)接到电源的正极或负极,具体连接方式可根据可控硅的类型和测试需求确定,在可控硅的阳极和阴极之间串联一个灯泡或电流表作为指示元件。
2、施加触发信号:给控制极(G)施加一个适当的触发信号,如正向脉冲电压或正向电流,对于普通的单向可控硅,触发信号的幅值一般在几伏到几十伏之间,脉宽在几十微秒到几毫秒之间;对于双向可控硅,触发信号可以是正负两个方向的脉冲电压。
3、观察指示元件状态:如果在施加触发信号后,灯泡亮起或电流表有示数,说明可控硅能够正常导通,其导通特性良好;如果灯泡不亮或电流表示数为零,即使多次施加触发信号也无反应,则可能是可控硅的门极损坏或内部断路,无法正常导通。
四、关断特性测试法
1、电路连接:在完成导通特性测试后,保持电路连接不变,只是将触发信号去除。

2、观察指示元件状态:正常情况下,当去除触发信号后,可控硅应该能够迅速关断,灯泡熄灭或电流表示数变为零,如果灯泡仍然亮着或电流表仍有示数,说明可控硅的关断特性不良,可能存在内部短路或漏电等问题,导致其无法正常关断。
通过以上这些方法的综合运用,可以较为准确地判断M65831AP可控硅的好坏,在实际操作中,应根据具体情况选择合适的测量方法和工具,并严格按照操作步骤进行,以确保测量结果的准确性和可靠性。
作者:豆面本文地址:https://www.jerry.net.cn/articals/23655.html发布于 2025-01-29 07:21:52
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